การวิเคราะห์การถดถอยอย่างง่ายเบื้องต้นพบว่าคะแนนความเครียดสะสมทั้งหมด ตัวสร้างความเครียดเรื้อรัง และเหตุการณ์ไม่พึงประสงค์สะสม (CALE) ล้วนมีความสัมพันธ์แบบผกผันกับความถี่ต่ำพิเศษ (ULF) ความถี่ต่ำมาก (VLF) และกำลังความถี่ต่ำ (LF) และ SDNN (p<0.05 ทั้งหมด) ความเครียดสะสม ในการวิเคราะห์การถดถอยแบบลำดับชั้น ความเครียดสะสมรวมและความเครียดเรื้อรัง แต่ละรายการมีความสัมพันธ์อย่างมีนัยสำคัญกับ SDNN และ ULF